Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения : пер. с англ. / Дж. Спенс

Main Author: Спенс, Дж., ДжонSecondary Author: Рожанский, В. Н.Language: русский ; of original work, английский.Country: Россия.Publication: Москва : Наука, 1986Description: 320 с. : ил.Bibliography: Библиогр.: с. 313-320.Subject: электронная микроскопия | электронная оптика | волновая оптика | когерентность | освещение | эксперименты | измерение
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Cover image Item type Current library Home library Collection Shelving location Call number Materials specified Vol info URL Copy number Status Notes Date due Barcode Item holds Item hold queue priority Course reserves
Books НТБ ТПУ Научный фонд 87-1725 Available 13821000679203
Books НТБ ТПУ Научный фонд 87-1295 Available 13821000532358
Books НТБ ТПУ Учебный фонд 537 С716 Available 13821000325124
Total holds: 0

Загл. указано на пер.

Библиогр.: с. 313-320

There are no comments on this title.

to post a comment.