Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов 4He для анализа состава и структуры ионно-облучённых слоёв диэлектриков / Ю. Ю. Крючков, В. Ф. Пичугин, В. В. Сохорева
Language: русский.Country: Россия.Subject: спектроскопия | методы | обратное рассеяние | быстрые ионы | ионные облучения | диэлектрики | труды учёных ТПУNo physical items for this record
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.