Зависимость свойств ионно-легированных слоёв GaAs : Si от дозы имплантации после радиационного отжига / М. В. Ардышев, В. М. Ардышев, В. Ф. Пичугин
Language: русский.Country: Россия.Bibliography: Библиогр.: 8 назв..Subject: отжиг | радиационный отжиг | диффузия | ионно-легированные слои | электронный отжиг | труды учёных ТПУNo physical items for this record
Библиогр.: 8 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.