Библиогр.: с. 251-252.

Предметный указатель: с. 253-256.

В настоящее время эффективное использование просвечивающей электронной микроскопии для исследования металлических объектов немыслимо без применения микродифракции, дающей обширную информацию о фазовом составе, тонкой кристаллической структуре, наличии и распределении дефектов в решетке. Данная книга посвящена вопросам получения и интерпретации микроэлектронограмм и написана как практическое руководство без детального рассмотрения теоретических положений. В книге описаны особенности электронограмм от тонких монокристаллических и поликристаллических объектов, подробно проанализированы ошибки, возможные при определении по электронограммам межплоскостных расстояний, рассмотрены эффекты, возникающие на сложных электронограммах из-за наличия упорядоченных фаз, выделений малых размеров, двойников и т. д., указаны приемы получения микроэлектронограмм, обеспечивающие наибольшую точность соответствия дифракционной картины выбранному на объекте участку и точность производимых при расшифровке измерений расстояний и углов. Приведен большой справочный материал: таблицы межплоскостных расстояний и углов, стереографические проекции для металлов и соединений с различной кристаллической структурой. Книга предназначена для научных работников и инженеров, применяющих электронную микроскопию для исследования металлов, а также преподавателей и студентов - металловедов и металлофизиков в качестве дополнительного пособия по методам интерпретации электронограмм.