Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие : пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан
Language: русский ; of original work, английский.Country: Россия.Publication: Москва : Техносфера, 2004Description: 377 с. : ил.ISBN: 5948360180.Series: Мир материалов и технологийAbstract: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями..Bibliography: Предметный указатель: с. 376-377.Subject: материаловедение | материалы | микроструктура | кристаллография | кристаллическая структура | дифракционный анализ | электроны | дифракция | оптическая микроскопия | электронная микроскопия | микроанализ | поверхности | химический анализ | учебные пособия| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 620.1 Б874 | Available | 13821000252488 | ||
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 620.1 Б874 | Available | 13821000228772 | ||
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 04-4669 | Available | 13821000182404 | ||
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 620.1 Б874 | Checked out | 01.11.2024 | 13821000182402 |
Предметный указатель: с. 376-377
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
There are no comments on this title.