Измерение параметров полупроводников материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович

Main Author: Батавин, В. В., Виталий ВасильевичCoauthor: Концевой, Ю. А., Юлий Абрамович;Федорович, Ю. В., Юрий ВячеславовичLanguage: русский.Country: Россия.Publication: Москва : Радио и связь, 1985Description: 264 с. : ил.Series: Измерения в электроникеBibliography: Библиогр.: с. 251-262..Subject: параметры | параметры | полупроводники | структура | полупроводниковые материалы | электрофизика | реализация | удельное сопротивление | заряды | пластины | измерения
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Cover image Item type Current library Home library Collection Shelving location Call number Materials specified Vol info URL Copy number Status Notes Date due Barcode Item holds Item hold queue priority Course reserves
Books НТБ ТПУ Научный фонд 85-6870 Available 13821000095092
Books НТБ ТПУ Учебный фонд 621.315 Б28 Available 13821000013556
Books НТБ ТПУ Учебный фонд 621.315 Б28 Available 13821000013605
Books НТБ ТПУ Научный фонд 85-4145 Available 13821000719269
Books НТБ ТПУ Учебный фонд 621.315 Б28 Available 13821000013606
Books НТБ ТПУ Учебный фонд 621.315 Б28 Available 13821000013564
Total holds: 0

Библиогр.: с. 251-262.

There are no comments on this title.

to post a comment.