Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок / Б. Н. Васичев
Language: русский.Country: Россия.Publication: Москва : Металлургия, 1977Description: 239 с. : ил.Bibliography: Библиогр.: с. 236-239.Subject: физика | металловедение | тонкие пленки | микроструктура | микрочастицы | рентгеноспектральный анализ | электронномикроскопические объекты | электронно-зондовый микроанализ| Cover image | Item type | Current library | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Materials specified | Vol info | URL | Copy number | Status | Notes | Date due | Barcode | Item holds | Item hold queue priority | Course reserves | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 77-10758 | Available | |||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 82-8562 | Available | 13821000363624 | ||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 77-10295 | Available | |||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 621.38 В195 | Available | |||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 621.38 В195 | Available | 13821000090113 |
Total holds: 0
Библиогр.: с. 236-239
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.