О применимости "атомных" и ядерных методов определения глубинных профилей концентрации элементов при исследовании процессов, индуцированных мощными ионными пучками / В. А. Рыжков
Language: русский.Country: Россия.Subject: труды учёных ТПУNo physical items for this record
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.