Применение метода вторичноионной масс-спектрометрии при исследовании диффузии в щелочно-галоидных кристаллах / А. В. Чернявский, С. А. Гынгазов

Main Author: Чернявский, А. В., специалист в области электроники, старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук, 1966-, Александр ВикторовичCoauthor: Гынгазов, С. А., специалист в области электроники, профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук, 1958-, Сергей АнатольевичLanguage: русский.Country: Россия.Subject: труды учёных ТПУ
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
No physical items for this record

There are no comments on this title.

to post a comment.