Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон и др.
Language: русский.Country: Россия.Publication: Москва : Мир, 1968Description: 574 с. : ил.Bibliography: Библиогр. в конце глав.; Предм. указ.:с. 561-568..Subject - Topical Name: Кристаллы -- Спектроскопические исследования Subject: физика | электронные микроскопы | электроны | дифракция | электронограммы | кристаллографические данные | контраст | микроскопия | стереомикроскопия | магнитные домены | измерения | неупругое рассеяние | тонкие кристаллы| Cover image | Item type | Current library | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Materials specified | Vol info | URL | Copy number | Status | Notes | Date due | Barcode | Item holds | Item hold queue priority | Course reserves | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 539 Э455 | Available | 13821000078814 | ||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | Б-8565 | Available | 13821000316172 | ||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | Б-8797 | Available | 13821000263758 |
Total holds: 0
Библиогр. в конце глав.
Предм. указ.:с. 561-568.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.