Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов [Электронный ресурс] : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук / С. Г. Еханин ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники : спец. 01.04.07

Main Author: Еханин, С. Г., Сергей ГеоргиевичCorporate Author (Secondary): Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроникиLanguage: русский.Country: Россия.Publication: Томск : [Б. и.], 2002Description: 1 файл (951 Kb)Classification: 01.04.07Subject - Topical Name: Щелочно-галоидные кристаллы -- Дефекты Subject: кристаллография | микронные слои | электрическая прочность | электрические поля | кинетика | авторефераты диссертаций | электронный ресурс Online Resources:Click here to access online
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
No physical items for this record

Заглавие с титульного экрана

Электронная версия печатной публикации

Adobe Reader

There are no comments on this title.

to post a comment.