Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов : диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.07 / С. Г. Еханин ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники; Научн. конс.: Н. С. Несмелов

Main Author: Еханин, С. Г., Сергей ГеоргиевичSecondary Author: Несмелов, Н. С.Corporate Author (Secondary): Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроникиLanguage: русский.Country: Россия.Publication: Томск : 2002Description: 304 л. : ил.Classification: 01.04.07Bibliography: Библиогр.: с. 242-259..Subject - Topical Name: Щелочно-галоидные кристаллы -- Дефекты Subject: кристаллография | микронные слои | электрическая прочность | электрические поля | кинетика | диссертации
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Cover image Item type Current library Home library Collection Shelving location Call number Materials specified Vol info URL Copy number Status Notes Date due Barcode Item holds Item hold queue priority Course reserves
Books НТБ ТПУ Научный фонд Р-6138 Available 13821000060647
Total holds: 0

Библиогр.: с. 242-259.

There are no comments on this title.

to post a comment.