Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха

Secondary Author: Сих, М. П.;Бриггс, Д.Language: русский ; of original work, английский.Country: Россия.Publication: Москва : Мир, 1987Description: 598 с. : ил.Subject - Topical Name: Рентгеноспектроскопия Subject: физика | спектроскопия рентгеноэлектронная | исследования | поверхностные явления | оже-спектроскопия | оборудование | применение
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Cover image Item type Current library Home library Collection Shelving location Call number Materials specified Vol info URL Copy number Status Notes Date due Barcode Item holds Item hold queue priority Course reserves
Books НТБ ТПУ Научный фонд 87-7298 Available 13821000327434
Books НТБ ТПУ Научный фонд 87-8368 Available 13821000099384
Total holds: 0

There are no comments on this title.

to post a comment.