Основы анализа поверхности и тонких пленок : пер. с англ. / Л. Фелдман, Д. Майер
Language: русский ; of original work, английский.Country: Россия.Publication: Москва : Мир, 1989Description: 342 с. : ил.ISBN: 503001013; 0-444-00989-2.Subject - Topical Name: Пленки тонкие -- Исследование -- (твердые тела) Subject: физика | поверхностные слои | ядерно-физический анализ | пленки тонкие | электроны | рентгеновские излучения | ионы| Cover image | Item type | Current library | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Materials specified | Vol info | URL | Copy number | Status | Notes | Date due | Barcode | Item holds | Item hold queue priority | Course reserves | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 539 Ф374 | Available | 13821000057998 | ||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Учебный фонд | 539 Ф374 | Available | 13821000203711 | ||||||||||||||
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 90-1303 | Available | 13821000265477 |
Total holds: 0
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.