Структурно-примесные и электрофизические свойства системы Si-SiO2 / Н. А. Зайцев, И. О. Шурчков
Language: русский.Country: Россия.Publication: Москва : Радио и связь, 1993Description: 192 с.ISBN: 5256011782.Subject: микросхемы кремниевые | кремний | диоксид кремния | Si-SiO, системы | электрофизические свойства | электронно-ионные процессы| Cover image | Item type | Current library | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Materials specified | Vol info | URL | Copy number | Status | Notes | Date due | Barcode | Item holds | Item hold queue priority | Course reserves | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 94-1105 | Available | 13821000264525 |
Total holds: 0
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.