Диагностика микроэлектронных структур / Физико-технологический институт; под ред. А. М. Афанасьева
Language: русский.Country: Россия.Publication: Москва : Наука, 1993Description: 110 с. : ил.ISBN: 5020069817.Series: Труды физико-технологического института, Т. 5Subject: электроника | микроэлектроника | интегральные схемы | техническая диагностика | СБИС | элементы | рентгеновская дифракция | электронная микроскопия | труды| Cover image | Item type | Current library | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Materials specified | Vol info | URL | Copy number | Status | Notes | Date due | Barcode | Item holds | Item hold queue priority | Course reserves | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Books | НТБ ТПУ Научный фонд | 94-960 | Available | 13821000395048 |
Total holds: 0
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.