Разработка метода контроля качества полупроводниковых пластин : Заключительный отчет о НИР : тема х/д 1-87/86 / Томский политехнический институт (ТПИ) ; руководитель В. М. Лисицын ; В. Ф. Штанько

Secondary Author: Лисицын, В. М., физик, профессор Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук, 1939-, Виктор Михайлович;Штанько, В. Ф., физик, профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук, 1948-, Виктор ФедоровичCorporate Author (Secondary): Томский политехнический институт (ТПИ), (1944-1991)Language: русский.Country: Россия.Publication: Томск : 1988Description: 81 л.Bibliography: Библиогр.: с. 78-81..Subject: отчеты о НИР | катодолюминесценция | полупроводники | оптические свойства | контроль | качество | труды учёных ТПУ
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Cover image Item type Current library Home library Collection Shelving location Call number Materials specified Vol info URL Copy number Status Notes Date due Barcode Item holds Item hold queue priority Course reserves
Books НТБ ТПУ Научный фонд Р-5319 Available 13821000413811
Total holds: 0

Библиогр.: с. 78-81.

There are no comments on this title.

to post a comment.